LABORATORIO DE SUPERFICIES XPS-UPS
Misión del Laboratorio
Líneas de Investigación
Analizar las superficies de los materiales, cualitativa y cuantitativamente, para determinar la composición elemental y determinar el estado químico. El estudio se puede hacer en una región específica, un punto, una línea o un área, perfil de profundidad y de resolución angular.
Realizar análisis superficial de materiales mediante las técnicas: Espectroscopia de Fotoelectrones por Rayos X y Espectroscopia de fotoelectrones por rayos ultravioleta (UPS).
Servicios
- Análisis elemental y químico de la superficie amorfa o cristalina.
- Entorno químico de los átomos: estado de oxidación y coordinación.
- Distribución de átomos y estados de oxidación en función del espesor del material.
- Determinación cualitativa de espesores de películas, multicapas e interfases.
- Análisis cuantitativo elemental y químico.
- Propiedades electrónicas como banda de valencia y nivel de Fermi.
- Análisis de procesos de difusión segregación sólida.
- Análisis químico de productos de desgaste, erosión y corrosión.
- Pasivación natural o provocada.
- Vacancias y efecto químico de átomos de dopantes.
- Límites de fases en superficies o puntos cuánticos.
- Comportamiento del electrón en su órbita cambiando su entorno electrónico.
- Parámetros Auger.
Equipo
XPS/UPS/ SXI-SEM, tipo Scanning XPS Microprobe, modelo PHI 5000 VersaProbe II
Especificaciones de las muestras:
Las muestras deben ser sólidas o polvos manipulables con dimensiones mínimas de 100 µm y máximo 1x1 cm y altura de 0.5 cm. Que no se degraden a 80 °C (de presión de vapor baja) y que estén secas (si son higroscópicas). Límite de detección de XPS 100 ppm.
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Responsable
Fís. Lázaro Huerta Arcos
Técnico Académico Titular “A” de Tiempo Completo Definitivo, PRIDE nivel D Departamento de Materiales de baja Dimensionalidad
Egresado de la Facultad de Ciencias de la UNAM, en la cual es profesor titular desde 2002, tiene estudios parciales del Doctorado en Ciencias e Ingeniería de Materiales en el área de materiales complejos. Actualmente es encargado de la operación y mantenimiento del Laboratorio de Análisis de Superficies XPS-UPS, trabajo que desarrolla desde hace 17 años.
Esta labor creciente se refleja en los productos de colaboración en trabajos de investigación, de los cuales destacan, ser coautor de 60 artículos publicados en revistas internacionales con arbitraje y 70 agradecimientos; ha participado en 120 trabajos presentados en congresos internacionales, 21 nacionales. Además, de trabajar en el Laboratorio, dedicó gran parte de su tiempo a analizarlas y/o capacitar usuarios en análisis espectros XPS, orientar estudiantes en sus trabajos de tesis, servicio social y divulgación. También, ha impartido 14 cursos especializados de técnicas de superficies y, 30 seminarios y conferencias.
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