Laboratorio de Fuerza Atomica | Instituto de Investigaciones en Materiales

LABORATORIO DE FUERZA ATÓMICA

Misión del Laboratorio

Líneas de Investigación

Realizar análisis de superficie con la finalidad de observar tamaño de partícula, clusters, mediante técnicas como modo contacto, tunelamiento, litografía entre otros, vía resolución atómica.

Se realiza análisis de superficies mediante el Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) a través de las técnicas siguientes:

Modo contacto: (alta resolución)
Modo no contacto
Microscopía de fuerza magnética
Modo contacto intermitente (tapping)
Efecto túnel
Densidad electrónica
Litografía

Servicios

La microscopía de fuerza atómica (AFM) permite estudiar las superficies de diversos materiales a escala nanométrica, así como obtener imágenes de elevada resolución de la topografía de la muestra. Los servicios que se pueden realizar en el AFM se enlistan a continuación:

Caracterizar la superficie de muestras sólidas y semisólidas.
Obtener información morfológica en 3D a partir de imágenes topográficas de las misma.
Identificar la distribución u homogeneidad de partículas en películas delgadas, entre otros.
Obtener parámetros superficiales como rugosidad, tamaño y límite de grano.

Equipos

Microscopio de Fuerza Atómica (AFM), Modelo JSPM-4210 (Equipo principal)

Microscopio de Fuerza Atómica Nanosurf Flex

Especificaciones de la muestra: Cualquier material siempre que esté libre de humedad y tenga una superficie plana, las muestras deben ser de máximo 1 x 1 cm y un grosor de 3mm.

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Responsable

Ing. Carlos Flores Morales

Técnico Académico Asociado C de Tiempo Completo

Departamento de Materiales Metálicos y Cerámicos

Egresado de la Licenciatura de Ingeniería Química en la Facultad de Química de la Universidad Nacional Autónoma de México (UNAM). Actualmente labora en el Instituto de Investigaciones en Materiales, teniendo a su cargo la operación y mantenimiento del laboratorio de Fuerza Atómica y del laboratorio de Transmisión.

Ha trabajado en el Instituto de Física desempeñándose como encargado del Laboratorio de Microscopía Electrónica de Transmisión.

Su labor se ve reflejada en agradecimientos y distinciones en libros, tesis, estancias posdoctorales, seminarios, revistas nacionales e internacionales, así como agradecimientos formales de apoyo técnico. También ha participado en trabajos presentados en congresos nacionales e internacionales, de igual manera ha impartido conferencias en distintas Instituciones.

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Tel. 55 5622 4581

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